MEASURING INSTRUMENT
画像処理システム
照明を含め、画像処理機器の選定を行い、画像処理、制御、ご要望に合わせた
GUIソリューションが可能です。
また、画像処理だけでなく装置に組込んだ自動システムの構築も対応しております。
弊社が提案できるトータルシステム
・お客様のご要求に応じたカスタム設計で対応しています。
・データと連携し、稼働情報の見える化も行っています。
ワイエイシイガーターにしかできない
・様々なご要望に対して、画像/装置/制御を含めたトータルシステムとして構築が可能です。
・保守・サポートも弊社のみで連携が可能でスピーディーに対応しています。
特徴
シリコンウェーハやチップ、MEMS、CSPなどの半導体デバイス
内部のメタル配線、ダイボンディング等の検査が可能。
お問い合わせ
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