NST-600 series
앞 공정에서 얻은 측정 결과를 바탕으로, 동일 랭크의 디바이스만을 웨이퍼에서 픽업하여 랭크별로 분류, 링 카세트에 수납하는 장치입니다.
새롭게 개발된 픽앤플레이스 암을 채용하여 반송 시간을 대폭 단축하였고, 자동 위치 보정 기능으로 수납(점착)정밀도를 높임으로써 생산성 향상에 기여하고 있습니다.
대상제품 | LED, WLCSP, BGA, IGBT |
---|---|
대상제품 사이즈 | □0.2~10.0 [mm] ※위의 사이즈 이외도 대응, 사이즈 차이의 공용은 별도 상담 두께:MIN 50~800 [µm] |
처리능력 | 0.085초/개 ※최량조건 |
공급방식 | 플레트링 / 그립링 |
링 사이즈 | 플레트링:6, 8인치 그립링:4, 5, 6, 8인치 ※그 외에 특수 형상의 링에도 대응 가능합니다 |
공급용 링수 | 플레트링 :25매 그립링 :12매 ※공급 카세트수가 1개인 경우 |
분류수 | 최대 125분류 |
전원 | 단상 AC200V / 10A |
외형수치 | W1,330×H1,715×D1,235 [mm] |
옵션 | 밑면 화상검사 |
※장치의 사양 및 처리 능력은 부품 사이즈나 형상, 측정 시간이나 검사 항목수 등에 따라 변동하므로 상담 후 결정하겠습니다.
※사진은 이미지입니다. 촬영이나 인쇄의 관계로, 실물의 색과 다를 수 있습니다.
사이즈 □10.0mm, 두께 50µm의 실리콘 칩의 픽업을 실현.
당사의 데미지 경감 기술을 통해, 크랙이 발생하기 쉬운 대형 극박 디바이스의 데미지를 방지할 수 있습니다.
웨이퍼링을 세로로 배치함으로써, 공급으로부터 점착(수납)측으로의 이관 거리를 단축할 수 있습니다.
웨이퍼가 사이즈 업 되어도, 처리 능력을 낮추지 않고 가동이 가능합니다.
업계 가운데서도 희소한 125분류에 대응하고 있습니다.
디바이스를 세부적으로 랭크를 나누고 싶은 고객이 매우 기뻐할 수 있는 기능입니다.
과제
웨이퍼씨트에 부착된 디바이스 뒷면의 외관검사를 실시하고 싶다.
해결
4헤드 타입의 반송(픽업)유닛을 채용하여, 웨이퍼씨트에 부착되었던 뒷면의 외관검사를 실시할 수 있도록 했다.
과제
두께 50µm의 박형 디바이스를 웨이퍼링에서 픽업했을 때, 크랙이 발생한 불량 제품을 출하해 버렸다.
해결
당사의 데미지 경감기술을 통해, 디바이스에 대한 데미지를 줄이고 크랙의 발생을 막을 수 있게 되었다.
자료청구 및 궁금하신 점은 이하 메일폼 혹은 전화로 문의해 주시기 바랍니다.
+81-428-31-8211