本公司擅於檢查受光晶片(Photo Diode等)、發光晶片(LED、LD等)的測試儀器。可以做從測試儀器考量跟自動機台搭配的系統提案。
可以對LD、LED、PD等發光晶片、受光晶片提案豐富的測試方法。
能進行用市售品無法檢查範圍的畫像檢查。可配合各式各樣的需求來提案、包含獨家演算法及照明等。
能做LED元件的固有測試、以及紅外域、可視域、紫外域的光學測試。
能做LD元件的固有測試、以及FFP測試、NFP測試、Pulse測試等光學測試。
可處理外觀檢查以及IR(紅外分光法)檢查。
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