畫像檢查裝置

YAC嘉大的畫像檢查裝置

能進行用市售品無法檢查範圍的畫像檢查。
可配合各式各樣的需求來提案、包含獨家演算法及照明等。

近紅外線畫像檢查的特點

【特點】
能檢查Silicon Wafer及Chip、MEMS、CSP等半導體元件內部的金屬配線、固晶等。
【目標材料】
Si(矽利康)　GaAs(砷化鎵)　陶瓷

 

產品影片

測試儀器陣容

LD測試儀
LX72系列

能做LD元件的固有測試，以及FFP測試、NFP測試、Pulse測試等光學測試。

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LED測試儀
LX47系列

能做LED元件的固有測試，以及紅外域、可視域、紫外域的光學測試。

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