NVI-211系列
為對Wafer上的Chip進行外觀檢查的設備。
採用獨家的外觀檢查測試方式實現縮短檢查時間。
適用元件 | 各種Chip元件 or 晶片 |
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供料Wafer Ring | Wafer Ring(最大至8吋Wafer用Ring) |
週期時間 | 最快75msec/個 最佳條件 |
畫像檢查功能 | 2,448×2,058畫素CCD 理論分解能 1.73[μm] |
電源 | 單相 AC200 [V] ,AC220 [V],AC230 [V] 50/60 [Hz] (transformer tap changer) |
外觀尺寸 | W890×H1,470×D930[mm] |
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+81-428-31-8211